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报告了单标记双光子过程中π0对产生微分截面的测量.该测量基于KEKB不对称能量正负电子对撞机上运行的Belle探测器获取的759fb-1数据.该截面测量中,Q2高达30GeV2,Q2是负的标记虚光子不变质量平方;双光子不变质量W和π介子散射角|cosθ*|分别在0.5<W<2.1GeV和|cosθ*|<1.0范围内,首次测量了f0(980)和f2(1270)螺旋度为0,1,2的形状因子.并将所得测量结果与理论预期进行了比较.