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合成绝缘子高压端是绝缘子电场强度最大的位置，也是最容易形成碳化导电通道的位置。为了发现高压端的短路缺陷，作者对220kV合成绝缘子高压端正常情况下，金属性短路和半导体短路情况下的径向电场强度进行了测量。试验结果表明，导电通道明显降低了高压端径向电场强度，可以采用测量径向电场的方法检测220kV合成绝缘子高压端的碳化导电通道缺陷。