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针对目前滤光片表面缺陷识别普遍采用人工方式，成本高、无法满足实时性等问题，提出一种基于有向无环图支持向量机（DAG-SVM）的滤光片表面缺陷识别方法。该方法结合滤光片常见缺陷的特点，设计出包含3个结构简单、性能优良的二分类器的滤光片表面缺陷识别方法，克服多分类器算法复杂、难以保证分类正确率的问题。实验结果表明：该方法对滤光片的点缺陷、印子缺陷、划痕缺陷及崩缺陷的识别正确率为100％。