论文部分内容阅读
利用磁控溅射技术合成了Ti-Ta-O薄膜涂层，采用体外血小板粘附试验，动态凝血时间测定以及动物体内试片埋植试验等评价方法，对涂层的抗凝血特性进行了研究；并采用Tauc法研究了涂层的禁带宽度，研究结果表明，Ti-Ta-O薄膜涂层具有良好的抗凝血特性以及禁带宽度为3．2eV的半导体特性，此外，探讨了Ti-Ta-O涂层的抗凝血机理，并提出材料的半导体特性是影响Ti-Ta-O涂层抗凝血特性的主要原因之一。