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电子系统测试中，测试节点的选择直接影响测试代价、测试效率和测试结果．详细分析了测试节点选择问题，以测试电路的故障字典和各节点测试代价为基础，对测试节点优选进行了数学描述，建立了数学模型，并基于隐枚举法给出了求解流程．对于给定的故障字典和节点测试代价，该方法可在保证故障隔离的前提下获得使系统测试代价最小的测试节点集，有效降低了系统测试代价．最后，以某型雷达的相敏检波放大器电路为例，详细阐述了所提测试节点优选方法，仿真实验结果验证了该方法的有效性．