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期刊论文
CBIR在半导体测量中的应用
CBIR在半导体测量中的应用
来源 :中国高新技术企业 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chunhuac
【摘 要】
:
文章简要讨论了CBIR在半导体测量中的应用。从半导体生产测量的特点入手,阐述了利用CBIR进行半导体某些参数测量的可能性和实际意义,在此基础上提出了下一步工作进展的方向,以实现用数字化指导生产实践的目标。
【作 者】
:
张健
【机 构】
:
西北工业大学明德学院
【出 处】
:
中国高新技术企业
【发表日期】
:
2010年01期
【关键词】
:
CBIR
半导体测量
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文章简要讨论了CBIR在半导体测量中的应用。从半导体生产测量的特点入手,阐述了利用CBIR进行半导体某些参数测量的可能性和实际意义,在此基础上提出了下一步工作进展的方向,以实现用数字化指导生产实践的目标。
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