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随着技术的快速发展,随机存储器记忆体的测试越来越需要更多可行的失效模型和有效的测试算法。基于对记忆体的邻近区域模型敏感失效模式以及其它失效模型的分析,本文提出了一种新的测试算法,较以往的具有更短的测试长度,是65.2倍存储器记忆体的比特数。而且有较高的测试覆盖率。
邻近区域模型敏感失效算法的改进
【摘 要】
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随着技术的快速发展,随机存储器记忆体的测试越来越需要更多可行的失效模型和有效的测试算法。基于对记忆体的邻近区域模型敏感失效模式以及其它失效模型的分析,本文提出了一种新的测试算法,较以往的具有更短的测试长度,是65.2倍存储器记忆体的比特数。而且有较高的测试覆盖率。
【机 构】
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苏州大学电子信息学院
【出 处】
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科技创新导报
【发表日期】
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2008年34期
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