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对自主研发的40nm工艺SRAM型FPGA电路的抗总剂量辐射能力进行摸底试验和分析.试验表明,采用普通商用40nm工艺未做加固的FPGA电路抗总剂量辐射能力可达100krad(Si),说明普通商用40nm工艺本身具有一定的抗总剂量性能.同时验证了总剂量辐射引起的器件参数退化随栅氧化层厚度的减薄而下降.