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Er离子注入GaP,GaAs,InP的二次离子质谱(SIMS)的研究

来源 :发光学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：qq85451619

【作 者】

：

陈辰嘉  王学忠  周必忠  陈世帛  雷红兵  李仪  李菊生 

【出 处】

：

发光学报

【发表日期】

：

1994年03期

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