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利用矢量网络分析仪测试射频微波器件时,经常需要对非插入式器件进行测量,去除适配器的影响。介绍了一种去除适配器影响的测量方法,通过单端口测试未知特性的转接器,根据假设条件和算法,使级联后理论计算值接近实际测量值,进而确定转接器的真实值,最终得到被测件的准确值,并且验证得到正确的实验结果,从而去除转接器在测试中对被测件的影响。为进一步展开端口延伸和去嵌入技术的研究奠定理论基础。