嵌入式系统芯片级测试技术

来源 :电子质量 | 被引量 : 0次 | 上传用户：sunrise12345678

【摘要】

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针对目前流行的嵌入式芯片级测试技术，本文介绍了SoC测试技术的基本工作原理，利用93000 SoC测试系统，提出了相关测试内容、方法并得出最终测试结果。

【作者】

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【机构】

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信息工程大学电子技术学院研究所

【出处】

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电子质量

【发表日期】

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2006年4期

【关键词】

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