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利用光学传输矩阵方法，研究了由正折射率材料和负折射率材料交替组成的一维光子晶体的能带结构和缺陷模特性。结果表明，在正入射时，含负折射率材料的光子晶体的带隙要比传统的光子晶体要大得多，并具有狭窄的透射带。计算了含有普通电介质缺陷层和特异介质缺陷层两种情况下的透射谱，发现在正入射时，对于正负折射率材料组成的一维光子晶体引入普通电介质缺陷层时，其缺陷模的个数随着缺陷厚度的增大而增多，这种特性在滤波器方面有重要的应用价值。而对于传统光子晶体中引入特异介质缺陷层时，随着缺陷厚度的增大，新的缺陷模并没有出现。