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纳米粒子晶格畸变率的数量级研究
纳米粒子晶格畸变率的数量级研究
来源 :材料导报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:sisu16113
【摘 要】
:
晶格畸变率是纳米粒子的一个重要参数.用X射线衍射积分宽度法确定了纳米CeO2粒子的晶格畸变率,研究了晶格畸变与晶拉度之间的关系,结合已有资料讨论了纳米粒子晶格畸变率的数
【作 者】
:
刘建路
张其春
林金辉
【机 构】
:
成都理工大学应用化学系,成都理工大学材料科学与工程系
【出 处】
:
材料导报
【发表日期】
:
2002年6期
【关键词】
:
畸变率
数量级
纳米粒子
晶格畸变
X射线衍射
积分宽度法
二氧化铈
结构
nanometer particles
distortion of crystal
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晶格畸变率是纳米粒子的一个重要参数.用X射线衍射积分宽度法确定了纳米CeO2粒子的晶格畸变率,研究了晶格畸变与晶拉度之间的关系,结合已有资料讨论了纳米粒子晶格畸变率的数量级大小.结果表明,不合理的计算方法可能会导致计算出来的晶格畸变值严重失实.
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学位
经鼻蝶
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