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介绍了用原子力显微镜(AFM)观察厚度为几十um的薄带断口形貌的宴验方法.其主要技术是利用AFM的反馈系统来寻找um量级的断面,从而实现薄带断口形貌的分析.将利用该方法得到的Fe13.5Cu1Nb3Si13.5B9薄带断口的AFM图像与其通常的薄带表面的AFM图像进行比较,发现通过断口的AFM形貌观测可获得不同于表面观测的薄带内部结构的信息,是研究薄带介观结构的一种有效方法.