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近几年,液晶显示器应用范围在不断扩大,为了有效提升设备应用水平,要对其质量影响因素予以关注,合理性分析相关处理机制的基础上,判定液晶显示器Mura缺陷后,结合科学测量减少其运行问题,实现设备质量管理最优化.本文简要分析了液晶显示器Mura缺陷的内涵和成因,并阐释了相应的测量方法,期望能为相关工作及研究的顺利推进提供有效借鉴.