【摘 要】
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在测量工作中经常有地形图的缩图和放图任务。过去我们缩放图是使用悬臂缩放仪,这种仪器价钱贵,要求有比较大的工作台;而且还要两人操作,工作效率不高,又为了要保持图板水平,所以两块硬图板(一块是底图,另一块是缩或放的图)只能平放,不能重迭。近两年采用"聚脂薄膜"测图,利用薄膜具有透明而又耐磨的优点,因而可以将底图和缩放的图重迭起来缩放。最近我们是利用我们自己制造的一台小型精密缩放
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在测量工作中经常有地形图的缩图和放图任务。过去我们缩放图是使用悬臂缩放仪,这种仪器价钱贵,要求有比较大的工作台;而且还要两人操作,工作效率不高,又为了要保持图板水平,所以两块硬图板(一块是底图,另一块是缩或放的图)只能平放,不能重迭。近两年采用"聚脂薄膜"测图,利用薄膜具有透明而又耐磨的优点,因而可以将底图和缩放的图重迭起来缩放。最近我们是利用我们自己制造的一台小型精密缩放
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我院71型无标尺测距仪是和长春市第二光学仪器厂协作试制成功的。它主要用于铁路、公路、矿山、地质、水利工程、城市建筑等方面的地形测量。特别适用于悬崖陡壁,人力不易攀登的山区的地形测绘工作,并能用于断面测量及视距导线测量。设计中为了缩小体积,减轻重量,采用了550毫米短基线。同时为了保证仪器的测距精度,扩大测量范围,将测距尺盲距改为60米设置了盲距分划板,使仪器的最短测距范围减为10米。结构上采用了同
前言毛主席关于"备战、备荒、为人民"的指示,对工业建设的布局和速度提出了新的要求。目前有较多的建厂测量工作是在山区里进行的。为了解决在山区建立控制网时的量距工作效率低和难度大的问题,我们用横基尺视差法测距来代替边长的直接丈量。由于我们缺乏实践经验,对用何种仪器和操作方法进行视差法测距才能满足我们在建立控制网时的量距精度要求感到没有把握。遵照毛主席的"认识从实践始,……"的教导,我们
无产阶级文化大革命的伟大胜利,为解放生产力创造了良好的条件。经过激烈的阶级斗争、路线斗争的锻炼,广大的革命干部、工人、技术人员的阶级斗争和路线斗争觉悟有了很大提高,思想得到了解放。社会主义建设对测绘要求的紧迫性,促使我们认真遵循伟大领袖毛主席的教导,打破常规。积极采用先进技术。为此,从1969年开始,我们在上级党的正确领导下,在四川地理所的参加及广大群众热情支持下,组成了一个
DI3是瑞士威特厂1973年7～8月份最新产品,其特点是:1、与经纬仪合用,在测水平角的同时,可以测距和高差。2、测斜距是全自动化,瞄准后,一拨开关即显示读数。3、仪器本身可做正弦和余弦运算,输入竖直角,可自动显示出水平距离与高差。4、通常可直接加入各项改正数(大气改正数,海平面归算,投影改化因数)。5、重量轻,并可分为四部分分别携带。因此,该仪器是目前最适于工程测量使用的新型仪器之一,可用于导线
六十年代以来,由于近代光学、电子学和以激光为代表的光电子技术的迅速发展,测量仪器也不同程度的逐步实现光、机、电相结合的改革,向着高效率、轻小型、全能性和自动化方向发展。新型仪器不断出现,并相应地也产生了一些新的工作原理。从而较显著地提高了作业速度,减轻了劳动强度,提高了测量精度。根据毛主席"洋为中用"的教导,现将国外在测距仪、经纬仪和水准仪方面的发展简况作一概述,供工程测量战线上的同志参考。由于查
前言一等大地测量和有些工业方面的测量如敏感的工程结构的变形观测对水准测量要求尽可能高的精度,几年来水准测量的精度和误差传递已成为很多调查研究的主题。但对水准测量精度的确定和分级仍有些问题需用现代技术和方法去解决。通常,对于有平行玻璃板测微器的光学水准仪可望能达到每公里1毫米的测量误差,如野外作业中适当注意还可能更好些。这一精度通常认为是一等精密水准测量规范的依据。
为了大打矿山之仗,多快好省地发展冶金工业,现将我们过去在××矿山为长距离坑道贯通所做的加强原有平面控制网的工作,加以整理,作为实例,提供探讨。在整理中,第一部分是方案讨论。粗浅地叙述了三个方案:1.利用光电测距仪在原有贯通平面控制网(锁)上增加长距离实量边(参见图1);2.在原有贯通平面控制网
一、前言从一九五八年大跃进开始特别是文化大革命和批林批孔运动以来,许多测绘单位都在试制无标尺测距仪,取得了很大的成绩。无标尺测距仪施测悬崖陡壁,地下矿房和空铜等方面的测量,有其显著的作用。但在一般的情况下,上述特殊地形和地物以及明显地物点所占总的测绘工作量的比例是有一定限度的。因此,利用原有仪器设备采取配装某些附件的办法则是较为多快好省的方案。我们遵照毛主席的"勤俭建国"和"自力更生"的伟大教导,
现有测量误差理论中,表达测角中误差和测回数的关系式为:M_i=±(M_0/(n_i~(1/2))),i=1,2,…n_0(A)式中:M_i为i测回测角中误差;M_0为一测回测角中误差(对于具体的一种观测仪器来说,M_0是一个理论常数);n为测回数。公式(A)的前题是观测角度的误差需纯属偶然性质。可是,无论观测仪器制造多么精密,校正多么严格,残余的系统误差终究是不可避免的。在此情况下,使用公式(A)