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针对垂直气固并流上行／下行系统的完全发展段、使用光纤密度探头测得反映系统局部密度涨落信息的时间序列，利用确定性混沌理论进行分析，获得表片系统自由度的关联维烽和反映系统信息挂失速率的Ｋｏｌｍｏｇｏｒｏｖ熵，并对上行和下行系统做比较研究。研究发现反映局部瞬态行为特征的Ｄｍｌ和Ｋｍｌ在上行和下行系统中一定的操作条件下具有大致相同的数值，且混沌参数与局部固含率表现为对应关系。