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导电胶常用于微波电路中的粘接互连,其互连可靠性对电路长期稳定运行至关重要。基于对某电源模块互连失效的分析,探索侧面胶量对于片式电容互连可靠性的影响。通过仿真模拟和试验分析,研究了不同侧面胶量下导电胶粘接电容在温度循环过程中的受力情况。结果表明,粘接电容侧面的导电胶胶量高度在电容高度的1/4时,其内部应力最小,互连可靠性最好。