发射光谱法测定碳酸盐岩矿样品中的银、锡、硼

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采用硫酸钾、硫磺粉和碳酸钡的混合物为缓冲剂,以人工配制的硅酸岩基体物质为样品稀释剂[1],在WPⅠ一米光栅上用直流电弧叠加摄谱,有效地改善了基体成分.该方法降低了银、锡、硼的检出限(分别为银0.019×10-6,锡0.49×10-6,硼1.9×10-6),精密度RSD(n=12)为2.79%~8.71%,可满足1:20万岩石化探分析测定的要求.
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