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针对在计算机视觉技术对大豆叶面积的无损测量研究中,如何校正图像和去除植物叶片纹理特征等问题,提出了投影映射无损测量法。测量有效性不受叶片大小、形状差异和叶片图像中叶片周边白色背景的影响。实验验证结果表明,该方法利用较少的特征点对就能很好地校正叶片图像,解决了非线性校正问题,并且图像信息量损失小。