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介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.实验证明该算法快速有效, 收剑性好.
基于遗传算法的磁光记录薄膜的温度特性计算
【摘 要】
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介绍了计算磁光记录薄膜温度特性的基本原理,提出了RE-TM磁光记录薄膜温度特性计算的遗传算法.着重分析了算法实现中的关键步骤,包括适应函数的选取及定标、遗传算子的选取.
【机 构】
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华中理工大学电子科学与技术系,湖北武汉,430074
【出 处】
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城市道桥与防洪
【发表日期】
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2004年期
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