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本文中笔者采用熔融玻璃片法制样，使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素，所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成，并用理论仅系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应，其分析结果与标准值相符。精密度统计结果显示，主、次量组分方法精密度（RSD，n=10）为0．371%～6．806％。该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染。