8-羟基脱氧鸟苷在壳聚糖 / 石墨烯修饰电极上的电化学及DNA氧化损伤检测

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采用循环伏安(CV)、线性扫描伏安(LSV)和示差脉冲伏安(DPV)等方法研究了8-羟基脱氧鸟苷(8-OHdG)在壳聚糖(Chi)/石墨烯(GR)修饰的玻碳电极(GCE)上的电化学行为,8-OHdG在该修饰电极上氧化峰电流与其浓度在3.5×10^-7-1.4×10^-4 mol/L范围内呈良好的线性关系,检测限为6.4×10^-8 mol/L(S/N=3)。 将Chi/GR/GCE用于检测DNA氧化损伤,8-OHdG在修饰电极上的氧化峰电流与损伤的DNA质量浓度在10~300
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