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随着芯片设计中集成内容的增加和设计规模的扩大，验证复杂性处于飚升状态。验证工程师必须在现有的工具和语言的基础上，找出适合设计的最优的验证方案。验证环境的最基本元素包括测试激励、BFM(Bus Functional Model)、检查机制和覆盖率统计。目前这几方面都提出了新的方法和概念，有利于提高验证的效率、精度和完备性。