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介绍了硅漂移（SDD）探测器在X荧光分析系统中的应用,与SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验对比,SDD探测器在性能指标及检出限上有着较大的优势。
SDD探测器在X荧光分析系统中的应用
【摘 要】
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介绍了硅漂移（SDD）探测器在X荧光分析系统中的应用,与SI-PIN探测器在能量分辨率、计数率等性能指标上的对比,以及在系统检出限上的实验对比,SDD探测器在性能指标及检出限上有着
【机 构】
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杭州电子科技大学,聚光科技
【出 处】
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大众科技
【发表日期】
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2012年12期
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