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通过对12位双极数模转换器在^60γ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析，发现数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异。这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应，而且表现出时间相关效应。结合辐射响应测试过程和空间电荷模型，对其损伤模块和辐射损伤机理进行初步探讨。