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InGaAsP/InP双异质结构外延片在直流负偏压120 V作用下,利用射频溅射和光刻剥离技术在样品表面淀积厚为110 nm的W0.95Ni0.05金属薄膜应变条,并在该应变条下的半导体内形成了对InGaAsP/InP双异质结构侧向光具有良好限制作用的光弹波导结构。W0.95Ni0.05金属薄膜及由其形成的光弹波导器件在氢氮混合气体的保护下,分别在250 ℃、350 ℃、450 ℃和600 ℃温度下各退火30 min以后,W0.95Ni0.05金属薄膜中压应变减少了十分之一。光弹波导器件输出椭圆形近场光模