20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究

来源 :内蒙古电力技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:easelin
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基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理,使用A型脉冲超声波反射法研究了20Cr1M01V(Nb)TiB紧固件Ⅰ类(晶粒级别1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3,4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级)晶粒级别的检测方法。结果表明:各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著,且随着探测频率的增加而增大。在相同探测频率下,一次底波波高为满刻度80%时,Ⅰ类与Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低7.61%~28.1%,波幅值平均值高10.6~15.8dB;Ⅱ类和Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低6.7%~9.4%,波幅值平均值高4~5.
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