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为了进行实时子结构实验，必需分析实验软硬件系统的实时特性．利用美国MTS公司的FlexTest GT控制器建立了实时子结构实验系统，并对一安装粘滞阻尼器的单层框架结构进行了实时子结构实验，实验中粘滞阻尼器为实验子结构，其余部分为数值子结构，实验与计算结果吻合很好．实验表明利用MTS—SCHENCK系统可以满足实时子结构实验对实验系统的要求，且实时子结构实验可以很好地反映速度相关型阻尼器的性能．另外，根据实验结果提出一种作动器响应简化模型，并根据这个模型分析了时滞对实验结果的影响．分析结果表明实验误差随时滞