Deep-learning-based nanowire detection in AFM images for automated nanomanipulation

来源 :Nanotechnology and Precision Engineering | 被引量 : 1次 | 上传用户：qq121450500

【摘要】

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Atomic force microscope(AFM)-based nanomanipulation has been proved to be a possible method for assembling various nanoparticles into complex patterns and devices. To achieve efficien and fully automa

【作者】

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Huitian Bai Sen Wu

【机构】

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StateKeyLaboratoryofPrecisionMeasuringTechnologyandInstruments

【出处】

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Nanotechnology and Precision Engineering

【发表日期】

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2021年01期

【关键词】

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Nanowire detection Instance segmentation YOLOv3 FCN Deep learning AFM

【基金项目】

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supported by the National Nature Science Foundation of China(Grant No.61973233).

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