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该书是一本供电子设备可靠性预计用的手册。对电子设备的设计师来说,是一本必备的工具。它在国际上也颇具影响。该手册提供了对电子设备进行可靠性预计的原则、步骤和方法。汇集了美国各类电子元器件(电阻器、电容器、电子管、接插元件、半导体管、半导体集成电路……)的可靠性数据(包括基本失效率方程式和在不同应力条件下的失效率表)以及利用这些数据对设备进行可靠性预计时所需要的各种修正系数。这是一本很有参考价值的资料。它在1962年出了第一版,编号为MIL-HDBK-217。 1965年出版了修订本217A。为了适应计算技术