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利用新研制出的垂直式低压CVD(LPCVD)SiC生长系统,获得了高质量的50ram 3C—SiC/Si(111)衬底材料.系统研究了3C—SiC的n型和P型原位掺杂技术,获得了生长速率和表面形貌对反应气体中SiH4流量和C/Si原子比率的依赖关系.利用Hall测试技术、非接触式方块电阻测试方法和SIMS,分别研究了3C—SiC的电学特性、均匀性和故意调制掺杂的N浓度纵向分布.利用MBE方法,在原生长的50ram 3C—SiC/Si(111)衬底上进行了GaN的外延生长,并研究了GaN材料的表面、结构和光