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为解决电子元器件辐射效应中测量器件X射线吸收剂量的问题,本文采用Geant4蒙特卡洛程序模拟计算X射线在水模体与硅模体中的吸收剂量,得到硅与水的吸收剂量转换因子.计算结果表明:在X射线管电压为60 kV的连续能谱下,硅吸收剂量与水吸收剂量的转换因子为6.929.此结果与质能吸收系数转换方法算出的结果符合得很好,表明此计算方法是可行的,为电子元器件X射线辐射效应的研究奠定了基础.