论文部分内容阅读
利用Frobenius定理、相似变换及一些不等式技巧，得到正矩阵谱半径的新上、下界．结果表明，新上界比Ostrowski定理的上界更优；在某些条件下，新上界优于Brauer定理的上界．最后，用实例证明结果．
正矩阵最大特征值界的新估计
【摘 要】
：
利用Frobenius定理、相似变换及一些不等式技巧，得到正矩阵谱半径的新上、下界．结果表明，新上界比Ostrowski定理的上界更优；在某些条件下，新上界优于Brauer定理的上界．最后，用实例证
【机 构】
：
华侨大学数学科学学院
【出 处】
：
华侨大学学报：自然科学版
【发表日期】
：
2009年2期
其他文献
研制对不同指标的试条进行扫描测试的胶体金测试系统.系统采用高亮度绿色发光二极管作为光源,高感度光纤探头作为感光元件,使得传感器可以有效抑制被检测样本背景色对扫描过程的影响.采用8通道10位A/DMAX 192两片并联的方式,可以同时对10种不同的样品进行分析,并根据事先标定的光密度值与浓度的拟合曲线给出分析结果.同时,系统具有手工标定和自动标定两种方式,提供试剂质控功能,有效地保障试剂正常使用.