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干涉测量方法作为材料均匀性绝对测量的测量方法，能去除干涉仪标准面及待测元件的面形影响，具有很高的测量精度。详细介绍了使用干涉手段测量ZnS光学材料折射率均匀性的方法，并通过改进设备，实现了大口径ZnS光学材料均匀性的绝对检测，检测精度不受光学零件面形精度的影响，测试精度为5×10-7。
ZnS光学材料均匀性高精度测量技术研究
【摘 要】
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干涉测量方法作为材料均匀性绝对测量的测量方法，能去除干涉仪标准面及待测元件的面形影响，具有很高的测量精度。详细介绍了使用干涉手段测量ZnS光学材料折射率均匀性的方法，并
【机 构】
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昆明北方红外技术股份有限公司
【出 处】
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云光技术
【发表日期】
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2014年1期
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