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目的研究小剂量电离辐射对受照人员晶状体的远期影响.方法对22名(44眼)受到一次性小剂量电离辐射照射(照后30年)人员和22名(44眼)对照人员的晶状体进行详细检查和分析.结果受照组晶状体后囊下点状浑浊发生率明显高于对照组(P<0.01);晶状体赤道部弥漫点状浑浊程度高于对照组(P<0.05);晶状体丝、条状和雪花状浑浊形态明显高于对照组(P<0.01).结论小剂量电离辐射照射对晶状体可造成损伤.