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IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试,以判断其好坏.开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径.本文分析了江汉大学的一项科研成果"IC智能测试仪"的测试原理、系统结构及使用方法.
试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法
【摘 要】
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IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试,以判断其好坏.开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径.本文分析了江汉大学的一项科研成果"IC智能测试
【机 构】
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江汉大学物理与信息工程学院
【出 处】
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高等函授学报(自然科学版)
【发表日期】
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2003年4期
其他文献
畸胎瘤好发部位为卵巢和睾丸，其他部位少见。纵隔的解剖空间较小，发生在此处的肿瘤和囊肿种类较多，形态复杂多样，但纵隔畸胎瘤少见。从1999-2005年，我院收治了5例纵隔崎胎瘤患者，本