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为减少IGBT器件的击穿失效等问题,该文提出了一种复合封装IGBT芯片的方法,能够有效防止集电极和发射极过压/过流引起的失效问题;并针对复合封装芯片的可靠性问题,在框架上增加裙边和凹槽,采用抽真空塑封方式,克服了分层现象,通过了热阻检测和可靠性试验,该封装方法具有良好的应用前景和研究价值。