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TEM study on Si0.65Ge0.35/p-Si HIP infrared detector

来源 :中国有色金属学报（英文版） | 被引量 : 0次 | 上传用户：a27155908

【作 者】

：

LiuAnsheng，ShaoBeiling，LiuZhen 

【出 处】

：

中国有色金属学报（英文版）

【发表日期】

：

1999年3期

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