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本工作研制基于柱形图分析法的模数转换器辐照效应测试系统。详细描述了系统的测试原理、系统组成、系统控制流程及系统实现的功能。利用该系统在^60Co源上对商用12位AD574AJD芯片进行了总剂量效应试验。结果表明,系统所测的ADC器件的静态参数及功能参数能正确反映器件的效应损伤情况,是一良好的ADC器件辐照效应测试平台。