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文中介绍了一种用于测试系统的分析方法，通过测试系统分析了解生产过程中使用的设备的变差，并对不合格的设备进行分析、改进，提高集成电路测试数据的真实性和准确性；减少产品在测试、检验过程中误判的可能性。
测试系统分析方法研究
【摘 要】
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文中介绍了一种用于测试系统的分析方法，通过测试系统分析了解生产过程中使用的设备的变差，并对不合格的设备进行分析、改进，提高集成电路测试数据的真实性和准确性；减少产品在测
【机 构】
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中国电子科技集团公司第58研究所
【出 处】
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电子与封装
【发表日期】
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2006年7期
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