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文章叙述了吸光光度法测量核靶厚度和均匀性的一般原理,并给出碳膜和金属膜的具体测量方法,本方法的厚度测量范围为5—200μg/cm~2,测量精度为10%。
用分光光度计测量核靶厚度和均匀性
【摘 要】
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文章叙述了吸光光度法测量核靶厚度和均匀性的一般原理,并给出碳膜和金属膜的具体测量方法,本方法的厚度测量范围为5—200μg/cm~2,测量精度为10%。
【机 构】
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中国原子能科学研究院,中国原子能科学研究院北京,北京,北京
【出 处】
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原子能科学技术
【发表日期】
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1989年1期
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