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采用离子束增强沉积的方法,改变氧分压,在硅基体表面制备出了不同组分及不同取向的氧化钛薄膜。采用XRD,掠角衍射以及XPS分析方法对薄膜的成分、结构和取向进行了分析,并通过RBS分析计算出了薄膜的O/Ti比。实验结果发现,所制备的氧化钛薄膜为具有一定择优取向的多晶膜,薄膜内TiO、Ti2O3和TiO2共同存在。当氧分压低于8.4×10-4Pa时,氧化钛薄膜的成分以TiO为主,且TiO的取向随氧分压的增加从(220)向(031)转变,氧分压对薄膜取向的影响较大。当氧分压高于8.6×10-4