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为了方便软件与应用系统的开发与调试,提出一种可复用的微处理器片上调试方法.通过设计通用的调试指令集和增加调试模块,并扩展处理器内核功能,实现了断点设置与取消、内核运行的流水级精确控制、内核资源访问、任意程序段运行中特殊事件的统计等片上调试功能.该方法已在自主研发的SuperV_EF01DSP上实现.在CMOS 90nm工艺下的综合结果表明,新增的片上调试功能不影响SuperV_EF01DSP的关键路径时序,而芯片总面积仅增加了3.87%.