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首次采用Ｘ射线光电子能谱技术（ＸＰＳ），研究了照相明胶中硫元素在掺杂铁（Ⅲ）离子前后存在形态及其相关性，发现硫在明胶中主要以三种化学形态存在，蛋氨酸砚中的团以及蛋氨酸中的－Ｓ－基团。三种化学形态间的相对含量，基本上反映出蛋氨酸及其两种氧化产物之间的相对比例。外来铁（Ⅲ）引发明胶中部分蛋氨酸砜被还原为蛋氨酸亚砜，与此同时，明胶中的一ＣＨ２－基团部分氧化为ＣＨ－ＯＨ基团。