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目的研究2种饰瓷材料与牙科氧化锆支架材料烧结界面的情况。方法对饰瓷材料进行X射线衍射分析，检测烧结后成分，采用粉浆涂塑法将2种饰瓷材料分别烧结于氧化锆支架材料上，并通过扫描电镜观察界面情况。结果两种饰瓷材料G-1、G-2烧结后均析出霞石、斜长石和硅灰石等晶体，与氧化锆烧结界面清晰光滑。结论G-1、G-2能够与氧化锆陶瓷支架材料匹配，可以作为饰瓷材料。