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当前应用X射线荧光光谱熔片制样技术分析测定较低含量、低荧光产额氟组分时，准确度较低，精密度较差、检出限较高。本文运用5：1较低稀释比熔样制片技术，采用波长色散X射线荧光光谱法测定磷矿石中11个主次量组分（F、Na2O、MgO、A12O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO、TFe2O3）和1个痕量组分（SrO）。采用磷矿石、岩石国家一级标准物质、磷矿石管理样品和人工配制标准样品校准，经验系数法进行基体校正，结果表明12个组分分析方法的精密度和准确度较好，检出限较低，未知样品的分析结果比较