滤纸基质荧光光度法测定银粉中微量铟

来源 :陕西化工 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jasonzhong414
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采用滤纸作为基质的固体表面荧光光度法测定微量铟,考察了以桑色素为荧光剂测定铟(In)的最佳条件。实验表明,该方法测定铟的线性范围是0 ̄53ng,检出限为2ng,对于20ng的铟测定10次,其相对标准偏差为1.7%。
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