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利用下列技术对独居石和辉石样品中稀土元素(REE)进行了定量分析:(a)样品分离二次离子质谱法(SISIMS);(b)仪器中子活化分析(INAA):(c)电子探针显微分析(EPMA,仅独居石样品,(d)常规的能量渗滤法(CEFSIMS)的SIMS(仅独居石样品)。矿物晶粒中REE的含量范围从独居石的高含量(wt％)到辉石的ppm级。用CEF和SI两技术的SIMS分析同其它分析的结果非常一致,这表明可以把SIMS应用于矿物中的REE分析。辉石晶粒的分析表明:使用样品分离的SIMS,其检测限在ppm到近于pp