基于DCT和Otsu的LCD缺陷检测算法

来源 :北京信息科技大学学报(自然科学版) | 被引量 : 8次 | 上传用户:wenshibing
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缺陷分割是液晶显示器(LCD)缺陷检测算法中的重要一步。为了检测背景不均匀LCD的缺陷,设计了一种基于离散余弦变换(DCT)和最大类间方差法(Otsu)的分割算法。首先通过DCT变换获取背景信息;然后利用DCT反变换重构出背景图像;最后通过求取原图和背景图像的差值图像,排除不均匀背景干扰,增强缺陷对比度,并利用Otsu分割算法分割出差值图像中的缺陷。实验结果表明,该算法能够检测常见的液晶屏缺陷,效果良好。
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